Масс-спектрометр с тлеющим разрядом Element GD Plus™ GD-MS

Используйте источник ионов тлеющего разряда в составе высокоразрешающего масс-спектрометра для прямого анализа проводящих материалов с помощью Thermo Scientific™ Element GD Plus™ GD-MS.

Переосмыслите анализ высокочистых материалов в твёрдом состоянии с помощью Thermo Scientific™ Element GD Plus™ GD-MS. Благодаря высокой производительности и предельно низким пределам обнаружения на уровне ppb, прибор является мощным инструментом для объёмного анализа металлов и глубинного профилирования в рутинных и исследовательских задачах.

Element GD Plus™ GD-MS позволяет анализировать практически все элементы периодической системы как в проводящих, так и в непроводящих материалах с одинаково высокой чувствительностью и качеством данных. Даже низкотемпературные металлы, такие как галлий, легко анализируются с помощью специализированного рабочего процесса пробоподготовки. Это делает GD-MS надёжным стандартом для любого анализа металлов.

Преимущества:
• Определение и количественное измерение почти всех элементов твёрдой пробы, многие — на уровне ppb.
• Высокая производительность при низкой стоимости анализа.
• Исключительная чувствительность и точность при большом потоке проб.

Быстрая и надёжная работа:
• Быстрая замена образцов: < 1 мин.
• Время откачки: < 10 мин.
• Высокая производительность: до 5 образцов/час.
• Минимальная пробоподготовка — нет необходимости в кислотной очистке высокочистых образцов.
• Быстрый анализ без измерения калибровочных стандартов.

Рутинная эксплуатация:
• Линейный динамический диапазон более 12 порядков позволяет одновременно измерять макрокомпоненты (%), следы (ppm) и ультраследы (ppb).
• Автоматическая перекалибровка между режимами детектирования обеспечивает надёжные результаты.
• Вакуумная камера образца исключает риск утечек между пробой и ячейкой тлеющего разряда.
• Определение концентраций элементов за одно сканирование без стандартов (метод RSF).

Лучшая точность и пределы обнаружения:
• Уникальный ионный источник с максимальной передачей ионов повышает чувствительность.
• Соотношение сигнал/шум обеспечивает суб-ppb пределы обнаружения.
• Опция CNO обеспечивает пределы обнаружения на уровне суб-ppm без снижения производительности.
• Снижение полиатомных помех в 10 раз по сравнению со статическими источниками GD.

Высокое разрешение для уверенных измерений:
• Высокое разрешение ICP-MS обеспечивает однозначные результаты без сложных настроек.
• Любые комбинации разрешений возможны в рамках одного анализа.
• Фиксированные щели гарантируют стабильность и воспроизводимость.
• Оптический фильтр минимизирует влияние сильных матричных сигналов на соседние пики.

Глубинное профилирование с нанометровым разрешением:
• Разрешение по глубине — от нанометров до сотен микрометров.
• Определение концентраций всех элементов от sub-ppm до 100% без калибровочных стандартов.
• Переменный диаметр анода для адаптивного профилирования.
• Регулируемые скорости распыления для анализа массива или глубины.

Рекомендуется для применения:
• Авиакосмическая промышленность: никелевые сплавы, композиты, покрытия и диффузионные слои.
• Микроэлектроника: медь, порошки Al₂O₃, мишени для напыления.
• Возобновляемая энергетика: кремниевые блоки, пластины, солнечные элементы.
• Медицина, фармацевтика, пищевая промышленность: нержавеющая сталь, сплавы.